[发明专利]不适声压推测系统、不适声压推测装置、不适声压推测方法及其计算机程序有效

专利信息
申请号: 201280004721.9 申请日: 2012-10-16
公开(公告)号: CN103313654A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 足立信夫;森川幸治;小泽顺 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: A61B5/0484 分类号: A61B5/0484;A61B5/16;H04R25/00;A61B5/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种无需向用户呈现强大声音就能够推测用户的不适声压的技术。不适声压推测系统具备:测量用户的脑波信号的生物体信号测量部;向用户呈现作为具有相同的频率的纯音的声音刺激群的声音刺激输出部,该声音刺激群由在规定的范围内声压按顺序减少的第1声音、第2声音及第3声音组成;从以呈现第2声音及第3声音中的至少一方的各个时刻为起点而确定的规定区间的脑波信号中,提取与脑波信号的现象关联电位的N1-P2振幅、或小波系数相关的特征量的提取部;和基于由提取部提取出的特征量来判定声音刺激群的频率所对应的不适声压的判定部。
搜索关键词: 不适 声压 推测 系统 装置 方法 及其 计算机 程序
【主权项】:
一种不适声压推测系统,具备:生物体信号测量部,其测量用户的脑波信号;声音刺激输出部,其向所述用户呈现作为具有相同的频率的纯音的声音刺激群,该声音刺激群由在规定的范围内声压按顺序减少的第1声音、第2声音及第3声音组成;提取部,其从以呈现了所述第2声音及所述第3声音中的至少一方的各个时刻为起点而确定的规定区间的所述脑波信号中,提取与所述脑波信号的现象关联电位的N1‑P2振幅、或小波系数相关的特征量;和判定部,其基于由所述提取部提取出的特征量,判定所述声音刺激群的频率所对应的不适声压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280004721.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top