[发明专利]利用来自单个发光粒子的光的检测的光分析方法和光分析装置有效

专利信息
申请号: 201280005999.8 申请日: 2012-01-20
公开(公告)号: CN103328955B 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 田边哲也 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中,不依赖于发光粒子的浓度而能够将结果的偏差抑制得小且将测量时间最优化。本发明的检测来自发光粒子的光并进行分析的技术重复进行一边通过变更显微镜的光学系统的光路使光学系统的光检测区域的位置在样本溶液内移动一边检测来自光检测区域的光的强度并个别地检测发光粒子的光的信号的处理直到来自发光粒子的信号的个数达到预先决定的个数为止,根据来自发光粒子的信号的个数达到预先决定的个数所需要的时间来确定样本溶液中的发光粒子的浓度。
搜索关键词: 利用 来自 单个 发光 粒子 检测 分析 方法 装置
【主权项】:
一种使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统来检测来自在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的光并进行分析的方法,其特征在于,包括以下步骤:光检测区域移动步骤,通过变更上述光学系统的光路来使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;光检测步骤,一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边检测来自上述光检测区域的光;时序光强度数据生成步骤,根据所检测到的来自上述光检测区域的光生成按时间序列的时序光强度数据;平滑处理步骤,对上述时序光强度数据进行平滑处理,直到能够忽略上述发光粒子所发出的光在微小的时间内可能产生的数据值的缺失为止;以及发光粒子检测步骤,在平滑处理后的上述时序光强度数据上,将具有大致吊钟状的曲线的、光强度随时间的变化逐个检测为来自各个上述发光粒子的光的信号,其中该大致吊钟状的曲线反映上述光检测区域内的光强度分布并且具有处于针对与一个发光粒子对应的信号设想的范围内的参数,其中,重复进行上述光检测区域移动步骤、上述光检测步骤、上述时序光强度数据生成步骤、上述平滑处理步骤以及上述发光粒子检测步骤直到来自上述发光粒子的光的信号的个数达到预先决定的个数为止,根据来自上述发光粒子的光的信号的个数达到预先决定的个数所需要的时间,来确定上述样本溶液中的上述发光粒子的浓度。
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