[发明专利]红外线反射基体无效

专利信息
申请号: 201280006708.7 申请日: 2012-01-30
公开(公告)号: CN103328591A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 宫西恭子;藤田贵史;细见哲也 申请(专利权)人: 长濑化成株式会社
主分类号: C09D201/02 分类号: C09D201/02;B32B27/00;C09D5/33;C09D7/12;C09D181/00
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 曹芳玲
地址: 日本国大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供通过涂布在基材表面可以简单地制造,示出薄的膜厚以及较高的光线透过性,且示出优异的红外线反射性能的红外线反射基体。红外线反射基体包含对于所述透明基体涂布含有聚(3,4-二取代噻吩)和聚阴离子的复合体的涂布剂而形成的红外线反射层,并且全光纤透过率为60%以上。优选的是所述复合体的导电率为0.15(S/cm)以上,优选的是所述红外线反射层的膜厚为0.50μm以下。
搜索关键词: 红外线 反射 基体
【主权项】:
一种红外线反射膜形成用的涂布剂,含有π共轭体系导电性聚合物。
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