[发明专利]用于监测并且特别是用于调整激光切割过程的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201280007963.3 申请日: 2012-02-01
公开(公告)号: CN103347642A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: T·黑塞;D·辛德黑尔姆 申请(专利权)人: 通快机床两合公司
主分类号: B23K26/38 分类号: B23K26/38;B23K26/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 韩长永
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及用于监测并且特别是用于调节工件上的激光切割过程的装置,所述装置包括图像检测装置和分析处理装置,所述图像检测装置用于拍摄所述工件的待监测区域(21)的图像(20),所述区域尤其包括激光束与所述工件交互作用区域(22,23),所述分析处理装置用于依据拍摄的图像(20)来检测材料界限、尤其是所述工件的边缘(Kl.l,Kl.2,K2.1,K2.2,K5.1,K5.2)。所述分析处理装置(18)被设计用于依据至少两个探测到的材料界限(Kl.l,Kl.2,K2.1,K2.2,K5.1,K5.2)之间的几何关系和/或依据所述交互作用区域(22,23)来求得所述激光切割过程的至少一个特性特征参数、尤其是切割质量。本发明也涉及用于检测以及特别是用于调节激光切割过程所属的方法。
搜索关键词: 用于 监测 并且 特别是 调整 激光 切割 过程 装置 方法
【主权项】:
一种用于监测并且特别是用于调节工件(2)上的激光切割过程的装置(1),其包括:●图像检测装置(10),用于拍摄所述工件(2)的待监测的区域(21)的图像(20),所述区域尤其包括激光束(5)与所述工件(2)的交互作用区域(22,23,31),以及●分析处理装置(18),用于依据拍摄的图像(20)来探测材料界限(K1.1至K6.1,K1.2至K6.2,K3;K4)、尤其是所述工件(2)的棱边(K1.1至K6.1,K1.2至K6.2,K4),其特征在于,所述分析处理装置(18)被设计用于依据至少两个探测到的材料界限(K1.1至K6.1,K1.2至K6.2,K4)之间的几何关系和/或依据所述交互作用区域(22,23,31)来求得所述激光切割过程的至少一个特性特征参数、尤其是切割质量。
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