[发明专利]校正飞行时间质谱仪中的飞行时间漂移有效
| 申请号： | 201280010125.1 | 申请日： | 2012-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN103392220B | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | J·伽洛斯金斯基;P·M·威利斯 | 申请（专利权）人： | 莱克公司 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;H01J49/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 陈芳 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种通过下述方式校正质谱仪中的飞行时间漂移的方法识别谱中的离子的质谱峰，在所有谱中检测具有基本上相同的质量的离子，确定检测的离子的飞行时间漂移，并且，通过对每一个相应的飞行时间应用校正因子来校正检测的离子的飞行时间漂移。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 飞行 时间 质谱仪 中的 漂移 | ||
【主权项】：
一种校正质谱仪中的飞行时间漂移的方法，该方法包括：识别多幅谱中的离子的质谱峰；在所述多幅谱中检测具有基本上相同的质量的离子；确定检测到的离子的飞行时间漂移；以及通过对每一个相应的飞行时间应用缩放因子来校正检测到的离子的飞行时间漂移，其中，在所述多幅谱中检测具有基本上相同的质量的离子包括：将每一个识别的质谱峰表示为概率分布；确定每一个相应的质谱峰的飞行时间和强度的至少一个；给离子的飞行时间分配置信级别；以及给具有重叠的置信级别的相应的质谱峰的离子分配相同的质量。
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