[发明专利]用于确定混浊介质中的吸收系数的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201280014930.1 申请日: 2012-03-26
公开(公告)号: CN103460025B 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 亨利克斯·约瑟夫斯·科尼勒斯·玛丽亚·斯提伦伯格;史提芬·查德·卡尼克;阿里恩·阿梅林克;多米尼克·詹姆斯·罗宾逊 申请(专利权)人: QuaSpec有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/49;A61B5/00;A61B5/1455
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 代理人: 徐川,武晨燕
地址: 荷兰泽*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种使用重叠的照明探测区域来确定浑浊介质的波长相关的吸收系数的方法,该方法包括以下步骤的a)从使用参考样品的参考测量中得到校准光谱(Cλ);b)对实际样品进行测量,以使用在样品(S介质)上测量到的原始光谱和所述校准光谱(Cλ)来确定绝对反射光谱(Rabs);C)通过将所测得的绝对反射光谱(Rabs)和模型函数(Rabs模型)之间的差最小化,使用所述绝对反射光谱(Rabs)来确定所述波长相关的吸收系数,其中,该模型函数(Rabs模型)是基于下列组合的现有知识,使用预先确定的等式来建模的有效光子路径长度(LPF)对散射相位函数(PF)的依赖性;不存在吸收(Rabs0)时绝对反射比对散射相位函数(PF)的依赖性。本发明还涉及用于确定波长相关的混浊介质的吸收系数的系统。
搜索关键词: 用于 确定 混浊 介质 中的 吸收系数 方法 系统
【主权项】:
一种使用重叠的照明检测区域来确定混浊介质的波长相关的吸收系数(μa)的方法,所述方法包括以下步骤:a.从使用参考样品的参考测量中得到校准光谱(Cλ);b.对实际样品进行测量,以使用在样品(S介质)上测量到的原始光谱和所述校准光谱(Cλ)来确定绝对反射光谱(Rabs);c.通过将所测得的绝对反射光谱(Rabs)和模型函数(Rabs模型)之间的差最小化,使用所述绝对反射光谱(Rabs)来确定所述波长相关的吸收系数,其中d.所述模型函数(Rabs模型)是基于下列组合的现有知识,使用预先确定的等式来建模的:i.有效光子路径长度(LSF)对假定的散射相位函数(PF)的依赖性;ii.不存在吸收时绝对反射比(Rabs0)对所述假定的散射相位函数(PF)的依赖性。
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