[发明专利]辐照设备和控制其的控制方法有效
| 申请号： | 201280015330.7 | 申请日： | 2012-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN103458966B | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | C·贝尔特;E·里策尔 | 申请（专利权）人： | GSI重离子研究亥姆霍茨中心有限公司 |
| 主分类号： | A61N5/10 | 分类号： | A61N5/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 沈英莹 |
| 地址： | 德国达*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种辐照设备，包括具有粒子加速器的加速器装置，借助粒子加速器可加速粒子并且可产生粒子束，该粒子束具有射束强度；用于测量所提取的粒子束射束质量的射束监控装置，该射束监控装置具有多个可设置的测量范围；用于控制加速器装置和射束监控装置的控制装置，其中，射束监控装置的测量范围可根据粒子束的射束强度和/或待施加的粒子数被设置。在用于控制辐照设备的控制方法中，产生具有射束强度的粒子束；借助射束监控装置监控粒子束的射束质量，从多个可设置的测量范围中选择一个测量范围，其中，根据粒子束的射束强度和/或根据待施加的粒子数设置射束监控装置的测量范围。 | ||
| 搜索关键词： | 辐照 设备 控制 方法 | ||
【主权项】：
辐照设备，包括：－具有粒子加速器(15、16)的加速器装置(13、15、16)，借助粒子加速器能加速粒子并且借助该粒子加速器能产生粒子束(12)，该粒子束(12)具有射束强度(I)，－至少一个用于测量粒子束(12)的射束质量的射束监控装置(32)，其中，由射束监控装置所测量的射束质量包括射束强度和/或横向射束位置，所述射束监控装置(32)具有至少两个用于测量同一射束质量的测量装置(34、36)，该射束监控装置(32)具有多个可设置的测量范围(43、43'、45、45')，以及－用于在以粒子束辐照靶区期间控制加速器装置(13、15、16)和射束监控装置(32)的控制装置(38)，其中，射束监控装置(32)的所述测量范围(43、43'、45、45')能够根据待施加的粒子数来设置并且射束监控装置的测量范围能在辐照靶区期间进行改变，其中，至少能够暂时设置配置给测量装置(34、36)的所述测量范围(43、43'、45、45')，使得所述测量装置(34、36)在不同的测量范围(43、43'、45、45')中工作，从而在射束监控装置内存在不同的、同时有效的测量范围。
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