[发明专利]安装结构体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201280015787.8 申请日: 2012-04-02
公开(公告)号: CN103460815B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 山口敦史;吉田久彦;岸新;大桥直伦 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: H05K1/14 分类号: H05K1/14;H01L21/60;H05K3/34;H05K3/36
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 俞丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在由焊料将半导体元件接合并安装于第1安装基板、并将该第1安装基板安装于第2基板上的结构中,若使用熔点较低的焊料来将第1安装基板与第2基板进行接合,则连接强度变低。提供一种安装结构体,利用具有217℃以上熔点的第1焊料(1)将半导体元件(4)与第1安装基板(5)进行接合,并将该第1安装基板(5)安装于第2基板(8)上,包括多个接合部(6),该接合部(6)将第1安装基板与第2基板进行接合;以及强化构件(7),该强化构件(7)形成于各接合部的周围。接合部结构分别为包含具有比第1焊料(1)要低的熔点的第2焊料来作为焊料材料,且以非接触方式相邻的各个接合部之间具有不存在强化构件空间(16)。
搜索关键词: 安装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种安装结构体,利用具有217℃以上熔点的第1焊料将半导体元件与第1安装基板进行接合,且该第1安装基板安装于第2基板上,其特征在于,包括:多个接合部,该接合部将与接合有所述半导体元件的面相反的面的所述第1安装基板与所述第2基板进行接合;以及强化构件,该强化构件形成于所述接合部的周围,所述接合部分别包含具有比所述第1焊料要低的熔点的第2焊料来作为焊料材料,相邻的各个所述接合部之间具有不存在所述强化构件的空间,所述强化构件与所述第1安装基板以及所述第2基板两者相接触并从所述接合部分别向所述第1安装基板和所述第2基板变宽,且不与相邻的所述接合部周围的强化构件相接。
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