[发明专利]高负载循环离子存储/离子迁移率分离质谱仪有效

专利信息
申请号: 201280016311.6 申请日: 2012-03-26
公开(公告)号: CN103460035A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: V.V.科夫托恩 申请(专利权)人: 赛默菲尼根有限责任公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;H01J49/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 邹雪梅;梁谋
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 此处提出了一种用于提供高操作负载循环的新颖的高离子存储/离子迁移率分离质谱仪。具体地,此处披露的示例实施例提供了一种有益地包括二维(2D)复数个相邻安排的离子限制通道的高离子存储/离子迁移率仪器,以便提供所希望的离子质量范围的一个高存储库。此类离子经由离子迁移率运输被分离为整体质量窗口的更小的部分进入所披露的2D限制通道的所期望的限制区域中,并且其后以一种使能前述新颖的高顺序操作负载循环的方式转移出去。
搜索关键词: 负载 循环 离子 存储 离子迁移率 分离 质谱仪
【主权项】:
一种高负载循环离子存储/离子迁移率质谱仪,包括:一个离子源;一个第一离子界面仪,该第一离子界面仪被划分成一个或多个限制通道,该一个或多个限制通道具有由所期望的直流和射频电位提供的多个预定的空间位置,其中所述第一离子界面仪的一个第一限制通道被配置成用于接收来自所述离子源的一个预定的质量窗口的离子,并且配置在所述第一离子界面仪内的相邻的一个或多个限制通道(N1)被设计成用于经由离子迁移率运输来接收并且其后限制所述预定的质量窗口的一个较小部分质量范围的选中的离子;一个第二离子界面仪,该第二离子界面仪被另外地划分成一个或多个限制通道(N2),该一个或多个限制通道也具有由所希望的直流和射频电位提供的多个预定的空间位置,其中任一所述一个或多个限制通道(N2)被配置成用于从配置在所述第一离子界面仪内的所述一个或多个限制通道(N1)接收所述预定的质量窗口的一个较小部分质量范围的所述选中的离子,所述第二离子界面仪被另外地配置成用于将此类选中的离子转移到多个连续的离子限制通道;以及一个或多个质量分析器,该质量分析器具有一个入口,该入口被配置成用于接收从所述第二离子界面仪的一个或多个预定的限制通道转移的离子以使得能够进行高通量质量分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛默菲尼根有限责任公司,未经赛默菲尼根有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280016311.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top