[发明专利]通过结晶湿法蚀刻制备的片上衍射光栅有效
申请号: | 201280016352.5 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103477254A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 那允中;J·赫克;荣海生 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18;G02B5/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张欣 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 描述了形成微电子结构的方法。这些方法的实施例可包括:在(110)硅晶片衬底上形成光掩模,其中该光掩模包括平行四边形开口的周期性阵列,以及随后在所述(110)硅晶片衬底上进行时控湿法蚀刻以形成蚀刻进(110)硅晶片衬底中的衍射光栅结构。 | ||
搜索关键词: | 通过 结晶 湿法 蚀刻 制备 衍射 光栅 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:将湿蚀刻剂施加到(110)硅衬底,其中所述(110)硅衬底包括光掩模,所述光掩模包括平行四边形的周期性阵列;以及将衍射光栅结构形成于所述(110)硅衬底中,其中所述(110)硅衬底的{111}面在所述(110)硅衬底的蚀刻期间形成蚀刻阻挡层。
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