[发明专利]颗粒分选设备和方法有效
申请号: | 201280017504.3 | 申请日: | 2012-01-31 |
公开(公告)号: | CN103460018A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | N·赛德哥拉威兹;J·C·夏普;S·B·埃尔利希;E·T·M·玛卡多 | 申请(专利权)人: | 塞通诺米/ST有限责任公司 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种颗粒分析和/或分选设备及相关方法。所述实施例的一个方面涉及具有采用用于对检测到的信号进行处理的现场可编程门阵列形式的获取和分选电子器件的分析器或分选器。另一方面,涉及用于对颗粒进行分析和分选的基于液滴的方法,并且还可以包括动态下降延迟这样的动态元素。在又一广泛方面中,提供用于动态地改变其它分选参数的设备和方法。 | ||
搜索关键词: | 颗粒 分选 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种对颗粒进行分选的方法,包括以下步骤:a.将包含颗粒的液流输送至检查区,并且利用电磁辐射源在所述检查区处查询所述颗粒,其中被查询颗粒产生发射或反射电磁辐射;b.检测被查询颗粒的发射或反射电磁辐射并且生成包含表示被查询颗粒的特性的脉冲的至少一个信号;c.将所述至少一个信号与触发阈值进行比较以判断颗粒事件的发生;d.生成具有事件窗口的事件存储器映射;e.使各颗粒事件与所述事件存储器映射中的事件窗口协调;f.根据所述至少一个信号针对各颗粒事件确定测量到的脉冲参数;g.基于测量到的脉冲参数来对颗粒分类;h.针对各事件窗口确定事件参数;i.基于与各事件窗口相关联的事件参数和颗粒分类来应用分选逻辑以作出分选决定;j.根据各分选决定来在各事件窗口内对颗粒进行分选;以及k.收集至少一个群的分选颗粒。
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