[发明专利]用于测量表面的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201280017957.6 申请日: 2012-03-14
公开(公告)号: CN103459978B 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: T·利林布鲁姆;W·施密特 申请(专利权)人: INB视觉股份公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B21/30
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 胡利鸣
地址: 德国马*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于识别和测量受测物的平坦、弯曲或弧形表面中的局部形状偏差的方法,其中利用分析设备来分析所述表面的三维测量数据(D),该方法在以客观和便于解释的分析结果来无损地检测受测物方面被扩展和改进为使得分析设备使用至少一个虚拟滤波元件作为用于识别平坦或凸形表面中的凹形部分区域的凹滤波器和/或作为用于识别平坦或凹形表面中的凸形部分区域的凸滤波器,滤波元件确定形状偏差的数值,并且该数值作为测量值通过输出设备被输出。还说明了一种用于执行相应方法的装置。
搜索关键词: 用于 测量 表面 装置 方法
【主权项】:
一种用于识别和测量受测物的平坦、弯曲或弧形表面中的局部形状偏差的方法,其中利用分析设备来分析所述表面的三维测量数据(D),其特征在于,所述分析设备使用至少一个虚拟滤波元件作为用于识别平坦或凸形表面中的凹形部分区域的凹滤波器、和/或作为用于识别平坦或凹形表面中的凸形部分区域的凸滤波器,所述虚拟滤波元件确定所述局部形状偏差的数值,并且所述数值作为测量值通过输出设备被输出,所述虚拟滤波元件被定向为与所述三维测量数据(D)尽可能平行,且相对于所述三维测量数据(D)的测量点被分别定向为使得当前观察的测量点(MP)处于所述虚拟滤波元件的起始于所述虚拟滤波元件的重心(SP)的法向(N)上,所述三维测量数据(D)的与所述虚拟滤波元件具有最小距离的至少一个测量点(MP)被定义为支持点(AP)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于INB视觉股份公司,未经INB视觉股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280017957.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top