[发明专利]可缩放光谱检测和测量有效
申请号: | 201280018232.9 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103582805A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | D·特蕾西;P·L·斯托克斯;S·科伊阿尼 | 申请(专利权)人: | 努拜欧有限公司 |
主分类号: | G01J3/12 | 分类号: | G01J3/12 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 孟锐 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明一般涉及用于检测和测量源自样品的光的光谱性质或同时可缩放检测和测量源自在多个样品之间存在的每个样品的光的光谱性质的系统、方法和套件,其中该系统包括:包括色散元件的光具组;以及图像传感器。检测和测量的光可以包括从样品散射的光、作为化学发光由样品内化学过程发射的光、由样品选择性吸收的光,或在激发之后作为荧光从样品发射的光。 | ||
搜索关键词: | 缩放 光谱 检测 测量 | ||
【主权项】:
一种用于检测和测量源自样品的光的光谱性质的系统,其中所述系统包括:包括色散元件的光具组;以及图像传感器,其中所述光由所述色散元件光谱地色散,并且光的所述光谱性质作为在所述样品和所述图像传感器之间相对运动的函数随时间推移在所述图像传感器上测量。
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