[发明专利]低温氧化硅转换有效

专利信息
申请号: 201280018583.X 申请日: 2012-03-30
公开(公告)号: CN103477422A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: J·梁;N·K·英格尔;S·洪;A·M·帕特尔 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/316 分类号: H01L21/316;H01L21/205
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明描述了一种形成氧化硅层的方法。所述方法首先通过自由基组分化学气相沉积(CVD)来沉积含硅-氮-氢(聚硅氮烷)的膜。通过在低基板温度下让聚硅氮烷膜暴露于湿气,将聚硅氮烷膜转换成氧化硅。还可把聚硅氮烷膜浸入具有氧与氢两者的液体(例如,水、过氧化氢和/或氢氧化铵)中。这些转换技术可单独或依序结合地使用。本文所述的转换技术加速了转换,产生了值得制造的膜,并且免除了对高温氧化处理的要求。臭氧处理可早于转换技术。
搜索关键词: 低温 氧化 转换
【主权项】:
一种在基板上形成氧化硅层的方法,所述方法包含:通过下列步骤形成含硅‑氮‑氢的层:使未激发前驱物流入远程等离子体区,以产生自由基前驱物;在无等离子体的基板处理区中,结合含硅前驱物与所述自由基前驱物;以及在所述基板上沉积所述含硅‑氮‑氢的层;在含臭氧气氛中,固化所述含硅‑氮‑氢的层,以将所述含硅‑氮‑氢的层转换成含硅‑氧的层;以及让所述含硅‑氧的层暴露于相对湿度为至少50%的潮湿气氛,以将所述含硅‑氧的层转换成所述氧化硅层。
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