[发明专利]检测分子的方法及光学传感器有效

专利信息
申请号: 201280018801.X 申请日: 2012-04-19
公开(公告)号: CN103620391A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 赫尔穆特·海德里希;彼得·吕措;丹尼尔·佩尔甘德;沃尔夫冈·沙德 申请(专利权)人: 弗兰霍菲尔运输应用研究公司
主分类号: G01N21/77 分类号: G01N21/77
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种借助光学传感器检测特定物质的分子的方法。该方法包括以下步骤:使所述传感器与待分析的流体接触,将第一波长(λ1)的光耦合至所述传感器的光学共振器(3)中,所述共振器(3)至少部分地覆盖有用于选择性吸收一组物质的覆盖材料的活性层,将第二波长(λ2)的光耦合至所述传感器的同一共振器(3)中或第二光学共振器(3′)中,所述第二共振器(3′)至少部分地覆盖有同一覆盖材料的活性层,对于所述第一波长和所述第二波长(λ1,λ2)中的每一个,检测从包含相应共振器(3,3′)的光路耦合出的光信号,改变相应共振器(3,3′)的光程或相应的波长(λ1,λ2),从而扫描含有相应共振器(3,3′)的至少一个共振的间隔,和-通过所述共振器(3,3′)的活性层处累积的分子,检测该共振的展宽,所述共振的展宽表明对进入相应共振器(3,3′)的光的吸收。本发明还涉及一种为实施该方法而设计的光学传感器。
搜索关键词: 检测 分子 方法 光学 传感器
【主权项】:
一种通过光学传感器检测特定物质的分子的方法,该方法包括,‑使所述传感器与待分析的流体接触,‑将第一波长(λ1)的光耦合至所述传感器的光学共振器(3)中,所述共振器(3)至少部分地覆盖有用于选择性吸收一组物质的覆盖材料的活性层,所述一组物质包括待检测的物质,‑将第二波长(λ2)的光耦合至所述传感器的同一共振器(3)中或第二光学共振器(3′)中,所述第二共振器(3′)至少部分地覆盖有同一覆盖材料的活性层,‑对于所述第一波长和所述第二波长(λ1,λ2)中的每一个,检测从包含相应共振器(3,3′)的光路耦合出的光信号,‑对于所述第一波长和所述第二波长(λ1,λ2)中的每一个,改变相应共振器(3,3′)的光程或相应的波长(λ1,λ2),从而扫描包含相应共振器(3,3′)的至少一个共振的间隔,‑对于所述第一波长和所述第二波长(λ1,λ2)中的每一个,通过所述共振器(3,3′)的活性层处累积的分子,检测该共振的展宽,所述共振的展宽表明对进入相应共振器(3,3′)的光的吸收。
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