[发明专利]光子计数型放射线检测器的校准装置及其校准方法有效

专利信息
申请号: 201280019588.4 申请日: 2012-04-20
公开(公告)号: CN103492906A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 山河勉;桥本大辅;长冈秀行;长野竜也;辻田政广 申请(专利权)人: 株式会社电视系统
主分类号: G01T1/17 分类号: G01T1/17;A61B6/14;G01T1/36;G01T7/00
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 姜虎;陈英俊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种用于光子计数型放射线检测器的校准装置。在该装置中,放射线(X射线)的照射条件被设定为,使该放射线的粒子入射至所述多个检测模块时入射粒子彼此重叠的概率在规定值以下(S33、S34)。在该照射条件的设定下,使所述放射线的检测灵敏度在多个检测模块相互之间一致(S35~S39、S41)。使用该一致结果,进一步使放射线的检测灵敏度在包含多个检测模块、鉴别电路以及数据运算电路的电路群所形成的所述像素各自的通道上、以及该各通道的每个鉴别电路上一致(S40、S41)。
搜索关键词: 光子 计数 放射线 检测器 校准 装置 及其 方法
【主权项】:
一种校准装置,其使用于光子计数型放射线检测器,所述光子计数型放射线检测器具备:检测器,具有多个检测模块,该多个检测模块分别具有多个检测元件,该多个检测元件形成多个像素且将从放射线源入射至每个该像素的放射线当作光子进行检测,并输出与该光子的能量相应的电量的脉冲信号;至少一个鉴别电路,用于在所述放射线的能谱上鉴别所述能量的大小,而用于设定多个能量区域的至少一个能量阈值与每个所述像素对应;数据生成电路,根据所述多个检测元件分别输出的所述脉冲信号的计数值,按照每个所述像素且按照每个所述多个能量区域生成所述放射线的粒子数的计数数据;图像生成单元,当向对象物放射所述放射线时,根据由所述数据生成电路生成的所述计数数据,生成该对象物的图像;该校准装置的特征在于,具备:照射条件设定单元,设定所述放射线的照射条件,以使当所述放射线的粒子入射至所述多个检测模块时入射粒子彼此重叠的概率在规定值以下;第一校准单元,在通过所述照射条件设定单元设定了所述放射线的照射条件的状态下进行校准,以使所述放射线的检测灵敏度在所述多个检测模块相互之间或在各个所述多个检测模块上一致;第二校准单元,使用所述第一校准单元的校准结果进行校准,以使所述放射线的检测灵敏度在至少包含所述多个检测模块、所述鉴别电路以及所述数据运算电路的电路群所形成的所述像素的每个通道上、以及所述通道的每个所述鉴别电路上一致。
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