[发明专利]确定测量物体表面上的3D坐标的光学测量方法和测量系统有效
| 申请号： | 201280022036.9 | 申请日： | 2012-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN103562675B | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 克努特·西尔克斯 | 申请（专利权）人： | 赫克斯冈技术中心 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G01S17/42;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 吕俊刚,刘久亮 |
| 地址： | 瑞士赫*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定测量物体表面（1s）的多个测量点的3D坐标的光学测量方法。为此，通过投影仪（3）以不同图案（2a）的图案序列来照射所述测量物体表面（1s），利用摄像机系统来记录被照射以所述图案序列的所述测量物体表面（1s）的图像序列，并且通过估计所述图像序列来确定所述测量点的3D坐标，具体来说，其中，在所记录的图像序列中的相应图像中确定针对所述测量物体表面（1s）上的相同测量点的连续亮度值。根据本发明，在此，测量所述投影仪（3）、所述摄像机系统和/或所述测量物体（1）的平移加速度和/或旋转加速度，并且根据所测量的加速度，调整对所述测量物体表面（1s）的照射和/或对所述图像序列的记录，具体来说，在所述测量处理期间，在时间上大致直接且现场反应性地调整。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 测量 物体 表面上 标的 光学 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于确定测量物体表面的大量测量点的3D坐标的光学测量方法，该光学测量方法具有以下步骤：·利用投影仪以不同图案的图案序列来照射所述测量物体表面，·利用摄像机系统来记录被照射以所述图案序列的测量物体表面的图像序列，以及·通过估计所述图像序列来确定所述测量点的3D坐标，其特征在于，测量·所述投影仪、·所述摄像机系统和/或·所述测量物体的平移加速度和/或旋转加速度，并且根据所测量的加速度反应性地调整对所述测量物体表面的照射和/或对所述图像序列的记录。
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