[发明专利]光子能谱装置和方法,校准该装置的方法以及该装置的用途有效

专利信息
申请号: 201280023309.1 申请日: 2012-03-12
公开(公告)号: CN103534611B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 埃里克·布利亚 申请(专利权)人: 阿海珐核能公司
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36;G01T1/40
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 代理人: 归莹,张颖玲
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种光子能谱装置(2),包括多个相同的能谱仪(6),所述多个光子能谱仪(6)中的每一个能谱仪(6)都包括辐射传感器(12)并能够提供与所述传感器(12)在一时段内的测量结果相对应的测量能谱,所述多个能谱仪(6)能够对同一放射性产品(4)同时执行测量并且能够提供针对同一时段的多个测量能谱;以及处理器件(8,16),能够根据多个所述能谱仪(6)在同一时段内提供的每个测量能谱来确定净能谱,并且能够将同一时段确定的净能谱相加得到的总体能谱。
搜索关键词: 光子 装置 方法 校准 以及 用途
【主权项】:
一种光子能谱装置(2),其特征在于,包括:至少一个校准源(S1,S2)和多个相同的光子能谱仪(6),所述多个光子能谱仪(6)中的每一个能谱仪(6)都包括辐射传感器(12)并能够提供与所述传感器(12)在一时段内的测量结果相对应的测量能谱,所述多个能谱仪(6)能够对同一放射性产品(4)和所述至少一个校准源(S1,S2)同时执行测量并且能够提供针对同一时段的各自的测量能谱;以及处理器件(8,16),所述处理器件(8,16)能够以下述方式为针对同一时段提供的多个测量能谱中的每一个确定出净能谱:通过相对于与所述至少一个校准源(S1,S2)对应的测量能谱的谱线并相对于所述校准源(S1,S2)或每个校准源(S1,S2)的基准线对每个测量能谱进行校正,所述处理器件(8,16)还能够通过对所确定的针对同一时段的所述净能谱进行相加而得到总体能谱。
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