[发明专利]具有嵌入的栅电极的自对准碳电子装置有效
申请号: | 201280024107.9 | 申请日: | 2012-05-18 |
公开(公告)号: | CN103563080A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 郭德超;汉述仁;K·K·H·黄;袁骏 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 贺月娇;于静 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种器件及器件制造方法包括在电介质衬底中形成(202)掩埋栅电极以及对在所述掩埋栅电极之上的包括高介电常数层、基于碳的半导电层和保护层的叠层进行构图(212)。对形成在所述叠层之上的隔离电介质层进行开口(216)以在与所述叠层相邻的区域中界定凹部。蚀刻所述凹部(218)以形成腔并且去除所述高介电常数层的一部分以在所述掩埋栅电极的相反侧暴露所述基于碳的半导电层。在所述腔中沉积导电材料(224)以形成自对准的源极区和漏极区。 | ||
搜索关键词: | 具有 嵌入 电极 对准 电子 装置 | ||
【主权项】:
一种器件制造方法,包括:在电介质衬底中形成掩埋栅电极;对在所述掩埋栅电极之上的包括高介电常数层、基于碳的层和保护层的叠层进行构图;对形成在所述叠层之上的隔离电介质层进行开口以在与所述叠层相邻的区域中界定凹部;蚀刻所述凹部以形成腔并且去除所述高介电常数层的一部分,以在所述掩埋栅电极的相反侧暴露所述基于碳的层;以及在所述腔中沉积导电材料以形成自对准的源极区和漏极区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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