[发明专利]用于管理光学元件中的热的设备及相关的热管理方法有效
申请号: | 201280024351.5 | 申请日: | 2012-04-18 |
公开(公告)号: | CN103636082B | 公开(公告)日: | 2016-10-19 |
发明(设计)人: | 丹尼·阿尔巴赫;简-克利斯朵夫·尚特卢;安东尼奥·卢恰内蒂;蒂埃里·诺沃;伯纳德·文森特 | 申请(专利权)人: | 巴黎综合理工学院 |
主分类号: | H01S3/04 | 分类号: | H01S3/04;H01S3/042;H01S3/06;H01S5/024;H01S3/08 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 王春伟;刘继富 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明涉及一种用于管理光学元件(2)中的热的设备(1),包括:光学元件(2);参考温度下的材料(5);和直接位于参考温度下的材料(5)和光学元件(2)之间的中间气体层(4),所述中间气体层(4)在其至少一部分厚度上处于由中间气体层(4)的厚度限定的所谓的瞬时扩散状态,使得中间气体层(4)中的气体分子的平均自由程与所述厚度的比值在0.1和10之间。本发明的特征在于中间气体层的厚度在10μm和5mm之间。本发明还涉及一种在所述设备(1)中实施用于管理光学元件(2)的温度的热管理方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 管理 光学 元件 中的 设备 相关 方法 | ||
【主权项】:
一种用于光学元件(2)的热管理的设备(1),包括:‑光学元件(2);‑参考温度下的材料(5);和‑直接位于所述参考温度下的材料(5)和所述光学元件(2)之间的中间气体层(4),其特征在于,所述中间气体层(4)在其至少一部分厚度上处于由所述中间气体层(4)的厚度限定的被称为“瞬态”的扩散状态,使得所述中间气体层(4)中的气体分子的平均自由程与所述厚度的比值在0.1和10之间,并且所述中间气体层的厚度在10μm和5mm之间。
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