[发明专利]被测定物的测定方法有效
| 申请号： | 201280026077.5 | 申请日： | 2012-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN103562707A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 近藤孝志;神波诚治;小川雄一;富田樱 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586;G01N21/35 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张宝荣 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明是一种测定方法，其中，在具有空隙部(10)的空隙配置结构体(1)保持被测定物(2)，向所述空隙配置结构体(1)照射电磁波，并对从所述空隙配置结构体(1)反射出的电磁波的频率特性进行检测，由此对所述被测定物(2)的特性进行测定，该测定方法的特征在于，包括在作为所述空隙配置结构体(1)的一方主面的第一主面的至少一部分上直接或者间接地附着液体(3)，并从作为所述空隙配置结构体(1)的另一方主面的第二主面侧照射电磁波的步骤，所述空隙配置结构体(1)的空隙部(10)为所述液体(3)不会从所述第一主面侧向所述第二主面侧泄漏那样的大小，所述液体(3)在开放为存在气压的气氛下的状态下，附着在所述空隙配置结构体(1)的第一主面上。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种测定方法，其中，在具有空隙部(10)的空隙配置结构体(1)保持被测定物(2)，向所述空隙配置结构体(1)照射电磁波，并对从所述空隙配置结构体(1)反射出的电磁波的频率特性进行检测，由此对所述被测定物(2)的特性进行测定，所述测定方法的特征在于，包括在作为所述空隙配置结构体(1)的一方主面的第一主面的至少一部分上直接或间接地附着液体(3)，并从作为所述空隙配置结构体(1)的另一方主面的第二主面侧照射电磁波的步骤，所述空隙配置结构体(1)的空隙部(10)为所述液体(3)不会从所述第一主面侧向所述第二主面侧泄漏那样的大小，所述液体(3)在开放为存在气压的气氛下的状态下，附着在所述空隙配置结构体(1)的第一主面上。
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