[发明专利]用于正交相移键控光发射器的同相和正交图案对准无效
申请号: | 201280026156.6 | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN103597791A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | S.K.S.哈塔纳;E.易卜拉欣莫夫 | 申请(专利权)人: | 奥普内斯特子系统公司 |
主分类号: | H04L27/36 | 分类号: | H04L27/36 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 马红梅;刘春元 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | QPSK调制器中的I/Q数据偏斜可以通过将相同的或互补的数据流发送到I和Q通路PSK调制器、将I和Q之间的相对载波相位设置成0或?、以及监测平均QPSK输出功率来检测,其中发送到I和Q通路的数据流包括1和0的伪随机流。 | ||
搜索关键词: | 用于 正交 相移 键控 发射器 图案 对准 | ||
【主权项】:
一种用于监测和对准正交相移键控(QPSK)调制器中的同相(I)和正交(Q)数据的方法,包括:将数据位串发送到QPSK调制器的I数据通路,并且将所述数据位串的复件发送到QPSK调制器的Q数据通路,所述数据位串和所述数据位串的复件具有相对偏斜;以及至少部分通过以下动作来测量作为I和Q数据通路之间的相对偏斜以及载波相位Φ的函数的平均调制器输出功率: 用相位控制来调整相对载波相位Φ, 用至少一个可调数据延迟器、通过调整后的相对载波相位Φ的整数数量的单位间隔来调整所述相对偏斜,以及 用检测器来检测所述调整后的相对相位Φ和调整后的相对偏斜的组合的平均调制器输出功率。
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