[发明专利]用于对多个装置状态分类的方法和设备有效
| 申请号： | 201280027088.5 | 申请日： | 2012-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN103597424A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 里昂纳德·H·葛罗科普;安东尼·萨拉 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/01 | 分类号： | G06F3/01;G06F3/0346 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 宋献涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本文描述用于使用单独贝叶斯分类器来对多个装置状态分类的技术。本文所描述的方法的实例包含：存取装置的传感器信息，其中所述传感器信息中的至少一些用于第一特征集中且所述传感器信息中的至少一些用于第二特征集中；使用经配置以确定第一状态类型的第一建议状态和第二状态类型的第一建议状态的第一分类算法来处理所述第一特征集；使用经配置以确定所述第一状态类型的第二建议状态和所述第二状态类型的第二建议状态的第二分类算法来处理所述第二特征集；以及将装置的建议状态确定为所述第一状态类型的所述第一建议状态和所述第二状态类型的所述第二建议状态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 装置 状态 分类 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种对装置的多个状态类型分类的方法，所述方法包括：存取所述装置的传感器信息，其中所述传感器信息中的至少一些用于第一特征集中，且所述传感器信息中的至少一些用于第二特征集中；使用第一分类算法来处理所述第一特征集，其中所述第一分类算法经配置以确定第一状态类型的第一建议状态和第二状态类型的第一建议状态；使用第二分类算法来处理所述第二特征集，其中所述第二分类算法经配置以确定所述第一状态类型的第二建议状态和所述第二状态类型的第二建议状态；以及将所述装置的建议状态确定为所述第一状态类型的所述第一建议状态和所述第二状态类型的所述第二建议状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司，未经高通股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280027088.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：拉伸模
- 下一篇：螺旋叶片成形加工装置
