[发明专利]电子元器件的特性测量方法

摘要

本发明提供可提高测量器的稼动率的电子元器件的特性测量方法。此方法使用一个测量器测量搭载了IC的电子元器件的特性。依次进行(a)启动电子元器件使其处于可测量状态的第1处理60a、60b，(b)使用测量器测量处于可测量状态的电子元器件的特性的第2处理62a、62b，(c)基于通过第2处理62a、62b获得的测量结果写入数据到电子元器件之后，停止电子元器件的启动的第3处理64a、64b。在进行第2处理62a、62b的特性测量工序中，对之后会进行第2处理62a、62b的电子元器件进行第1处理60a、60b。

主权项

一种电子元器件的特性测量方法，该电子元器件的特性测量方法对搭载有IC的电子元器件依次进行以下处理：第1处理，在该第1处理中，启动所述电子元器件使其处于可测量状态；第2处理，在该第2处理中，使用测量器对通过所述第1处理处于可测量状态的所述电子元器件的特性进行测量；以及第3处理，在该第3处理中，根据通过所述第2处理获得的测量结果向所述电子元器件写入数据后，停止所述电子元器件的启动，该电子元器件的特性测量方法的特征在于，在对通过所述第1处理处于可测量状态的所述电子元器件进行所述第2处理的特性测量工序中，对该特性测量工序之后进行所述第2处理的、特性测量之前的所述电子元器件进行所述第1处理。