[发明专利]线性器件值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器系统以及电子设备有效

专利信息
申请号: 201280031567.4 申请日: 2012-05-22
公开(公告)号: CN103649888B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 宫本雅之;饭塚邦彦 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044;G06F3/041
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 毛立群,徐红燕
地址: 日本大阪*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 电容分布检测电路(102)包括复用器(104)、驱动器(105)以及读出放大器(106),并且复用器(104)在其中第一信号线(HL1至HLM)被连接到驱动器(105)且第二信号线(VL1至VLM)被连接到读出放大器(106)的第一连接状态与其中第一信号线(HL1至HLM)被连接到读出放大器(106)且第二信号线(VL1至VLM)被连接到驱动器(105)的第二连接状态之间切换状态。该第一连接状态(A)(a)基于代码序列(di(=di1,di2,…,diN,其中i=1,…,M))(其包括+1或–1且其中的每一个具有长度N),并行地驱动第一信号线(HL1至HLM),使得施加电压+V或–V,并且(b)沿着第二信号线(VL1至VLM)中的每一个输出对应于第二信号线中的相应的一个的电容器中所存储的电荷的线性和,以及(B)针对多个第二信号线(VL1至VLM)中的每一个,基于沿着第二信号线(VL1至VLM)输出的电荷的线性和与代码序列di的内积操作,估计沿着该第二信号线形成的电容器的电容,并且该第二连接状态(C)(a)基于代码序列(di(=di1,di2,…,diN,其中i=1,…,M)),并行地驱动第二信号线(VL1至VLM),使得施加电压+V或–V,并且(b)沿着第一信号线(HL1至HLM)中的每一个输出对应于第一信号线中的相应的一个的电容器中所存储的电荷的线性和,以及(D)针对多个第一信号线(HL1至HLM)中的每一个,基于沿着第一信号线(HL1至HLM)输出的电荷的线性和与代码序列di的内积操作,估计沿着该第一信号线形成的电容器的电容。
搜索关键词: 线性 器件 估计 方法 电容 检测 集成电路 触摸 传感器 系统 以及 电子设备
【主权项】:
一种估计线性器件值的方法,其用于检测均在多个第一信号线与多个第二信号线的交叉点上形成的多个线性器件的值的分布,该方法包括以下步骤:在第一定时中驱动第一信号线,以从第二信号线输出对应于线性器件的输出;在第一定时之后的第二定时中控制第一信号线的连接与第二信号线的连接的切换;以及在第二定时之后的第三定时中驱动第二信号线,以从第一信号线输出对应于线性器件的输出,驱动第一信号线的步骤包括:(A)(a)基于代码序列di来并行地驱动多个第一信号线,以及因此(b)沿着多个第二信号线中的每一个输出对应于多个第二信号线中的那相应的一个的线性器件的输出的线性和;以及(B)针对多个第二信号线中的每一个,基于(i)沿着相应的第二信号线输出的线性和与(ii)代码序列di的内积操作来估计沿着该第二信号线布置的线性器件的值,以及驱动第二信号线的步骤包括:(C)(a)基于代码序列di来并行地驱动多个第二信号线,以及因此(b)沿着多个第一信号线中的每一个输出对应于多个第一信号线中的那相应的一个的线性器件的输出的线性和;以及(D)针对多个第一信号线中的每一个,基于(i)沿着相应的第一信号线输出的线性和与(ii)代码序列di的内积操作来估计沿着该第一信号线提供的线性器件的值。
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