[发明专利]对相关组织样本进行光学分析的设备

摘要

为了改进荧光测量，提供一种用于对相关组织样本进行光学分析的设备、方法和计算机程序，所述设备包括光谱仪（其包括光学探测器）、光源、被布置为向相关组织样本发射光子的第一光发射器219、被布置为从相关组织样本接收光子的第一光收集器221、第二光发射器223、第二光收集器225，其中，经由第一光发射器219和第一光收集器221获得反射光谱，并且经由第二光发射器223和第二光收集器225获得荧光光谱，其中，第一光发射器与第一光收集器之间的第一距离d1大于第二光发射器与第二光收集器之间的第二距离d2。通过对这样获得的数据进行组合，可以获得本征荧光光谱。

主权项

1.一种用于对相关组织样本(116)进行光学分析的设备(100)，所述设备包括：‑光谱仪(110、111)，其包括光学探测器(108、109)，‑光源(104、106)，‑第一光发射器(219)，其被布置为向所述相关组织样本发射光子，‑第一光收集器(221)，其被布置为从所述相关组织样本接收光子，‑第二光发射器(223)，其被布置为向所述相关组织样本发射光子，‑第二光收集器(225)，其被布置为从所述相关组织样本接收光子，并且其中，所述光谱仪、所述光源、所述第一光发射器(219)和所述第一光收集器(221)被布置为获得表示从包括如下光谱的组中选择的光谱的第一数据集：所述相关组织样本(116)的反射光谱、透射光谱和吸收光谱，并且其中，所述光谱仪、所述光源、所述第二光发射器(223)和所述第二光收集器(225)被布置为获得表示所述相关组织样本(116)的荧光光谱的第二数据集，所述设备还包括‑处理器(113)，其被布置为：‑接收所述第一数据集，并且从所述第一数据集确定波长相关的散射系数和/或吸收系数的集合，并因此确定失真参数，‑接收所述第二数据集，以及‑基于所述第二数据集和所述失真参数来确定表示所述相关组织样本的本征荧光光谱的第三数据集，其中，所述第一光发射器(219)与所述第一光收集器(221)之间的第一距离(d1)基本大于所述第二光发射器(223)与所述第二光收集器(225)之间的第二距离(d2)，并且其中，在测量所述第一数据集期间探查的所述相关组织样本的第一体积(650)与在测量所述第二数据集期间探查的所述相关组织样本的第二体积(652)基本重叠，其中所述设备还包括：‑数据库(114)，其包括预定校正因子表，其使得第三数据集的确定能够基于第一经测量的数据集和第二经测量的数据集，并且，所述处理器(113)还被布置为：‑访问所述数据库(114)，并且其中，所述确定表示所述相关组织的本征荧光光谱的所述第三数据集还基于所述预定校正因子表。