[发明专利]树脂封装型半导体装置的制造方法以及树脂封装型半导体装置有效
申请号: | 201280033933.X | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN103975422A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 小笠原淳;伊东浩二;六鎗広野 | 申请(专利权)人: | 新电元工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/316 | 分类号: | H01L21/316;C03C3/105;H01L29/74;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/868 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明树脂封装型半导体装置10是一种包括台面型半导体元件100,以及封装台面型半导体元件100的铸模用树脂40的树脂封装型半导体装置10;并且,通过实施将沟道的内面氧化从而形成基底氧化层121的基底氧化层形成工序,形成通过基底氧化层覆盖沟道的内面的由铅系玻璃复合物构成的玻璃复合物层的玻璃复合物层形成工序,以及在铅系玻璃复合物的溶倒点Tf以下的温度下烧制玻璃复合物层的烧制工序,来形成铅系玻璃层124。本发明的树脂封装型半导体装置虽然与以往的树脂封装型半导体装置同样具有将台面型半导体元件用树脂铸模的结构,但是一种比以往的树脂封装型半导体装置具有更高的高温反偏压耐量的树脂封装型半导体装置。 | ||
搜索关键词: | 树脂 封装 半导体 装置 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种树脂封装型半导体装置的制造方法,依次包含:准备具有与主面平行的PN结的半导体基板的半导体基板准备工序;从所述半导体基板的一侧的表面形成深度超过所述PN结的沟道的沟道形成工序;形成覆盖所述沟道的内面的铅系玻璃层的玻璃层形成工序;通过沿所述沟道将所述半导体基板切断,制作台面型半导体元件的半导体基板切断工序;以及将所述台面型半导体元件使用铸模用树脂封装的树脂封装工序,其特征在于:其中,所述玻璃层形成工序包含:将所述沟道的内面氧化从而形成基底氧化层的基底氧化层形成工序;形成通过所述基底氧化层覆盖所述沟道的内面的由铅系玻璃复合物构成的玻璃复合物层的玻璃复合物层形成工序;以及在所述铅系玻璃复合物的溶倒点Tf以下的温度下烧制所述玻璃复合物层的烧制工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造