[发明专利]溴酸根离子的测定方法和测定装置有效
| 申请号： | 201280035182.5 | 申请日： | 2012-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN103649730A | 公开（公告）日： | 2014-03-19 |
| 发明（设计）人： | 小西菜摘;长谷川绘里;田中良春;五十岚淑郎;大友孝郎 | 申请（专利权）人： | 美得华水务株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/78 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 钟晶;於毓桢 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种溴酸根离子的测定方法，其包括：将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的第1工序，对荧光物质的荧光强度进行测量的第2工序，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的第3工序，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的第4工序，其中，第2工序包括对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时之中任一情况下的荧光强度进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 溴酸 离子 测定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种溴酸根离子的测定方法，其特征在于，包括：将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的第1工序，对荧光物质的荧光强度进行测量的第2工序，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的第3工序，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的第4工序，在该溴酸根离子的测定方法中，所述第2工序包括对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时之中任一情况下的荧光强度进行测量的工序。
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