[发明专利]磁场分析方法有效

专利信息
申请号: 201280035526.2 申请日: 2012-06-05
公开(公告)号: CN103718180B 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 牧晃司 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G01R33/12
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本,*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种磁场分析程序和磁场分析方法,能够高速且高精度地计算由叠加在直流磁场上的交流磁场引起的电感。该磁场分析程序通过频率响应分析来求解交流磁场,使计算机执行以下处理:输入直流磁通密度或直流磁场强度、交流电流的振幅和频率、分析对象的磁性部件的初始磁化曲线,在输入的是直流磁通密度的情况下求取直流磁场强度,在输入的是直流磁场强度的情况下求取直流磁通密度(S100);使用交流电流的振幅和频率执行频率响应分析,计算交流磁通密度和交流磁场强度(S104);和导出满足以下条件的解的步骤(S105、S106),该解使得通过频率响应分析获得的交流磁通密度的最大值与直流磁通密度之和,在期望的精度下,与由通过频率响应分析获得的交流磁场强度的最大值与直流磁场强度之和以及初始磁化曲线所决定的磁通密度一致。
搜索关键词: 磁场 分析 方法
【主权项】:
一种磁场分析方法,使用包括输入单元、运算单元和存储单元的计算机,通过频率响应分析来求解交流磁场,其特征在于,包括以下步骤:由所述输入单元输入直流磁通密度和直流磁场强度中的任一者、交流电流的振幅和频率两者、以及分析对象的磁性部件的初始磁化曲线;由所述运算单元,在输入直流磁通密度的情况下根据该直流磁通密度和所述初始磁化曲线求取直流磁场强度,在输入直流磁场强度的情况下根据该直流磁场强度和所述初始磁化曲线求取直流磁通密度;由所述存储单元存储所述直流磁通密度、所述直流磁场强度、所述交流电流的振幅和频率、所述初始磁化曲线;由所述运算单元使用所述交流电流的振幅和频率、所述磁性部件的增量磁导率执行频率响应分析,计算交流磁通密度和交流磁场强度;和由所述运算单元一边更新所述增量磁导率一边反复进行所述频率响应分析,直至导出满足以下条件的解,该解使得通过所述频率响应分析获得的交流磁通密度的最大值与所述直流磁通密度之和,在从所述存储单元中读出的精度下,与由通过所述频率响应分析获得的交流磁场强度的最大值与所述直流磁场强度之和以及所述初始磁化曲线所决定的磁通密度一致。
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