[发明专利]用双能X射线计算机断面显像技术估算岩样的有效原子序数和体积密度的方法有效
| 申请号： | 201280037280.2 | 申请日： | 2012-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN103718016B | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | N.德治 | 申请（专利权）人： | 因格瑞恩股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24;G01N23/087 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种用X射线计算机断层显像技术估算岩样或钻井岩心等物体的有效原子序数和体积密度的方法。该方法能有效地补偿CT扫描数据判读中的误差，并能产生与实际体积密度值相比具有较低剩余误差的体积密度值以及与物理观测结果一致的体积密度‑有效原子序数趋势。 | ||
| 搜索关键词： | 用双能 射线 计算机 断面 显像 技术 估算 有效 原子序数 体积 密度 方法 | ||
【主权项】：
一种估算至少一种目标物体的体积密度的方法，包括：i.对具有已知体积密度的两种或更多参考物体和具有已知体积密度和有效原子序数的三种或更多标定物体进行扫描，ii.使用从参考物体和标定物体获得的扫描值获得体积密度误差和有效原子序数之间的函数关系，iii.对目标物体和标定物体进行扫描，iv.获得目标物体的未修正体积密度和有效原子序数，v.利用从参考物体获得的体积密度误差和有效原子序数之间的函数关系获得目标物体的体积密度修正值和有效原子序数，和vi.利用体积密度修正值获得修正后的体积密度。
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