[发明专利]荧光粒子的检测方法有效
| 申请号： | 201280038085.1 | 申请日： | 2012-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN103718023B | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 中田秀孝;田边哲也 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇,李茂家 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种荧光粒子的检测方法，其包括调制包含荧光粒子和促进前述荧光粒子从三重激发态向单重基态跃迁的物质的试样溶液；以及计数调制的试样溶液中存在的荧光粒子的分子数。计数前述荧光粒子的分子数包括如下工序使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统，在前述试样溶液内移动前述光学系统的光检测区域的位置；一边在前述试样溶液内移动前述光学系统的光检测区域的位置，一边检测由前述光检测区域中的前述荧光粒子发出的光信号，逐个检测前述荧光粒子；和将前述逐个检测到的荧光粒子的个数进行计数而计数前述光检测区域的位置的移动中检测到的前述荧光粒子的个数的工序。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 粒子 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种在试样溶液中分散并随机运动的荧光粒子的检测方法，其包括：(a)调制包含荧光粒子和促进所述荧光粒子从三重激发态向单重基态跃迁的物质的试样溶液的工序；和(b)计算出所述工序(a)中调制的试样溶液中存在的荧光粒子的分子数的工序，其中，所述工序(b)中的荧光粒子的分子数的计算包括：使用共聚焦显微镜或多光子显微镜光学系统，通过采用改变所述光学系统的光路而在所述试样溶液内移动所述光学系统的光检测区域的位置的工序；在所述试样溶液内移动所述光检测区域的位置的同时，通过检测由所述光检测区域中存在的所述荧光粒子发出的光信号，逐个检测所述荧光粒子的工序；和通过将所述逐个检测到的荧光粒子的个数进行计数而计数所述光检测区域的位置的移动期间检测到的所述荧光粒子的个数的工序；其中，所述移动光检测区域的位置的工序包括以比所述荧光粒子的扩散移动速度更快的速度移动所述光检测区域的位置；其中，所述试样溶液中的所述促进所述荧光粒子从三重激发态向单重基态跃迁的物质的浓度为0.3mM～10mM；其中，通过检测来自每个所述荧光粒子的光信号来逐个检测所述荧光粒子的工序包括根据检测到的按照时间顺序的光信号的形状来检测单个所述荧光粒子向所述光检测区域中的进入。
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