[发明专利]测量装置、测量系统、使用测量系统的测量位置对齐方法和测量位置对齐程序有效
申请号: | 201280038297.X | 申请日: | 2012-06-07 |
公开(公告)号: | CN103718007B | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | 川端秀树;木岛明良 | 申请(专利权)人: | 株式会社隆创 |
主分类号: | G01J3/50 | 分类号: | G01J3/50;A61B5/055;A61B6/00;A61B6/03 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 吕俊刚;刘久亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于准确地对齐将要测量的多个物体的对应测量点,并且根据两个测量点处的测量的结果评估将要测量的物体。测量系统(100)设置有测量装置(10)和PC(20),并且测量装置(10)设置有测量将要测量的物体的测量点的分光部(12)和用于实时地对测量点的周边进行拍摄的摄像头(16)。PC(20)在显示部(22)的显示画面上显示由测量装置(10)的摄像头(16)拍摄并且显示的评估介质的连续图像信息的评估图像以重合在已经由摄像头(16)拍摄并且存储在存储器(24)中的基准介质的静止图像信息的基准图像上。通过在通过在两个图像彼此几乎完全重叠时测量评估图像中的测量点获得的测量数据与存储器(24)中存储的基准图像中的测量点的测量数据之间执行比较,能够容易地执行对齐并且执行测量数据的比较。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 系统 使用 位置 对齐 方法 程序 | ||
【主权项】:
一种测量系统,所述测量系统包括:测量装置,所述测量装置检测测量对象的任意测量点处的物理量并且对所述测量对象的所述测量点和所述测量点的周边中的至少所述测量点的周边实时地进行拍摄以获得连续的图像信息,并且输出所述连续的图像信息,所述测量装置在所述连续的图像信息中捕获静止图像信息;存储部,所述存储部将作为基准图像的所捕获的静止图像信息与基于由所述测量装置检测到的物理量的测量值一起存储;图像处理部,所述图像处理部用于以重合的方式显示从所述测量装置输出的所述连续的图像信息和存储在所述存储部中的所述静止图像信息以进行图像匹配;以及显示部,所述显示部显示为了进行图像匹配而由所述图像处理部重合的所述连续的图像信息和所述静止图像信息;其中,所述测量装置包括:测量检测部,所述测量检测部检测所述测量对象的任意测量点处的物理量;以及拍摄部,所述拍摄部对所述测量对象的所述测量点以及所述测量点的周边中的至少所述测量点的周边实时地进行拍摄以获得所述连续的图像信息,并且输出所述连续的图像信息。
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