[发明专利]用于卤化物气相外延系统和方法的直接液体注射无效
申请号: | 201280040542.0 | 申请日: | 2012-07-31 |
公开(公告)号: | CN103748262A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | R·T·小贝尔特拉姆 | 申请(专利权)人: | SOITEC公司 |
主分类号: | C23C16/30 | 分类号: | C23C16/30;C23C16/448;C23C16/52;C30B29/40;C30B25/16 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;于高瞻 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 将复合半导体材料沉积在一个或多个基材(16)上的方法,所述方法包括计量和控制前体液体从前体液体源(22)进入蒸发器(27)的流速。所述前体液体(23)可以包含液体状态的GaCl3、InCl3和AlCl3的至少一种。前体液体(23)可以在蒸发器(27)内蒸发以形成第一前体蒸汽。可以使所述第一前体蒸汽和第二前体蒸汽流入反应室(12),复合半导体材料可以从所述前体蒸汽沉积在所述反应室(12)内的基材(16)的表面上。用于进行这些方法的沉积系统(10)包括用于计量和/或控制前体液体从液体源流动至蒸发器的设备,同时所述前体液体保持为液体状态。 | ||
搜索关键词: | 用于 卤化物 外延 系统 方法 直接 液体 注射 | ||
【主权项】:
一种在基材上沉积复合半导体材料的方法,其包括:计量和控制前体液体从前体液体源进入蒸发器的流速,所述前体液体包含液体状态的GaCl3、InCl3和AlCl3的至少一种;在所述蒸发器内蒸发所述前体液体以形成第一前体蒸汽;使所述第一前体蒸汽从所述蒸发器流出至反应室内接近工件基材的表面的区域;使第二前体蒸汽单独地流入所述反应室;以及将复合半导体材料沉积在所述反应室内的所述工件基材的所述表面上,所述复合半导体材料包含来自所述第一前体蒸汽的至少一种元素和来自所述第二前体蒸汽的至少一种元素。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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