[发明专利]光子计数探测器有效

专利信息
申请号: 201280042035.0 申请日: 2012-08-16
公开(公告)号: CN103765244A 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: E·勒斯尔;R·普罗克绍 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种探测器阵列包括至少一个直接转换探测器像素(114-114M),所述至少一个直接转换探测器像素被配置为探测多色电离辐射的光子。所述像素包括阴极层(116)、阳极层(118)、直接转换材料(120)和栅电极,所述阳极层包括用于所述至少一个探测器像素中的每个的阳极电极(118-118M),所述直接转换材料被放置在阴极层和阳极层之间,所述栅电极被放置在所述直接转换材料中,平行于并且在阴极层和阳极层之间。
搜索关键词: 光子 计数 探测器
【主权项】:
一种探测器阵列(110),包括:至少一个直接转换探测器像素(1141‑114M),其被配置为探测多色电离辐射的光子,所述像素包括:阴极层(116);阳极层(118),其包括用于所述至少一个探测器像素中的每个的阳极电极(1181‑118M);直接转换材料(120),其被放置在所述阴极层和所述阳极层之间;以及栅电极,其被放置在所述直接转换材料中,平行于所述阴极层和阳极层,并且在所述阴极层和阳极层之间。
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