[发明专利]压缩元件挠曲的基于图像的确定

摘要

本发明涉及X射线成像技术以及图像后处理和分析。公开了一种X射线成像系统元件（3）、一种X射线成像系统（2）、系统元件在X射线成像系统中的使用以及确定压缩元件的挠曲的方法（40）。所述X射线成像系统元件（3）包括两个压缩元件（8a、8b），它们能够相对于彼此移动。对象（10）可以被引入并且能够被压缩到所述第一压缩元件和所述第二压缩元件之间。所述压缩元件中的至少一个适于在将对象压缩到所述压缩元件之间时改变其几何形状和/或相对于另一压缩元件的对准。在所述压缩元件中的一个上提供至少部分X射线不透明的标记元件（24），所述标记元件适于允许检测相应的压缩元件（8a、8b）的几何形状的改变。

主权项

一种用于确定对象（10）的几何参数的X射线成像系统元件（3），包括：第一压缩元件（8a）；以及第二压缩元件（8b）；其中，所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）能够相对于彼此移动；其中，对象（10）能够被引入到所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）之间；其中，所述对象（10）能够在所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）之间被压缩；其中，当所述对象（10）在所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）之间被压缩时，所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）中的至少一个适于改变其几何形状和/或相对于所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）中的另一压缩元件的对准；其中，X辐射（12）能够穿透所述第一压缩元件（8a）、所述对象（10）和所述第二压缩元件（8b）；其中，所述第一压缩元件（8a）和所述第二压缩元件（8b）中的至少一个包括至少一个至少部分X射线不透明的标记元件（24）；其中，所述标记元件（24）适于允许检测相应的压缩元件（8a、8b）的几何形状的改变。