[发明专利]非易失性存储元件、非易失性存储装置、非易失性存储元件的制造方法及非易失性存储装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201280044072.5 申请日: 2012-09-10
公开(公告)号: CN103999218B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 米田慎一;三河巧;伊藤理;早川幸夫;姫野敦史 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L45/00;H01L49/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 非易失性存储元件(20)具备:第1电极(105);第2电极(107);电阻变化层(106),介于第1电极(105)与第2电极(107)之间,将与第1电极(105)连接的第1电阻变化层(1061)和与第2电极(107)连接的第2电阻变化层(1062)层叠而构成;以及侧壁保护层(108),具有氧阻挡性,将上述电阻变化层(106)的侧面覆盖;第1电阻变化层(1061)由第1金属氧化物(106a)和形成在第1金属氧化物的周围且氧不足度比第1金属氧化物(106a)小的第3金属氧化物(106c)构成,第2电阻变化层(1062)由氧不足度比第1金属氧化物(106a)小的第2金属氧化物(106b)构成。
搜索关键词: 非易失性 存储 元件 装置 制造 方法
【主权项】:
一种非易失性存储元件,其特征在于,具备:第1电极;第2电极;电阻变化层,介于上述第1电极与上述第2电极之间,将与上述第1电极连接的第1电阻变化层和与上述第2电极连接的第2电阻变化层层叠而构成,基于施加在上述第1电极与上述第2电极之间的电压的极性而电阻值可逆地变化;侧壁保护层,具有氧阻挡性,将未与上述第1电极及上述第2电极中的任一个连接的上述电阻变化层的侧面覆盖;以及层间绝缘层,形成得将上述电阻变化层和上述侧壁保护层覆盖;上述第1电阻变化层由第1金属氧化物和第3金属氧化物构成,该第3金属氧化物形成在该第1金属氧化物的周围并且氧不足度比该第1金属氧化物的氧不足度小,上述第2电阻变化层由氧不足度比上述第1金属氧化物的氧不足度小的第2金属氧化物构成,上述侧壁保护层至少将上述第3金属氧化物的侧面覆盖,防止上述层间绝缘层所含的氧向上述第3金属氧化物扩散。
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