[发明专利]用于位置检测的电极配置及用于位置检测的方法有效

专利信息
申请号: 201280046443.3 申请日: 2012-09-20
公开(公告)号: CN103827796A 公开(公告)日: 2014-05-28
发明(设计)人: 史蒂芬·伯格 申请(专利权)人: 微晶片科技德国第二公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044;H03K17/96
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 沈锦华
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明提供一种用于检测物体相对于包括至少三个电极的电极配置的位置的方法,其中第一电极实质上与第二电极平行或同心地布置,第三电极相对于所述第一电极成锐角或偏心地布置,所述第一电极加载有第一产生器信号,且其中所述第二电极可加载有第二产生器信号。所述第二产生器信号优选相对于所述第一产生器信号反相。此外,为根据本发明的所述方法提供包括至少三个电极的适当电极配置。
搜索关键词: 用于 位置 检测 电极 配置 方法
【主权项】:
一种用于检测物体F相对于包括至少三个电极的电极配置的位置P的方法,其中第一电极实质上相对于第二电极平行或同心地布置,第三电极相对于所述第一电极成锐角α或偏心地布置,所述第一电极加载有第一产生器信号,且其中为了确定所述电极配置通过所述物体P的暴露,所述第二电极作为接收电极操作且所述第三电极可加载有第二产生器信号,其中在所述接收电极处分接第一测量信号,其代表所述接收电极与所述第一电极之间的第一耦合电容,为了确定所述位置,所述第三电极作为接收电极操作且所述第二电极加载有所述第二产生器信号,其中在所述接收电极处分接第二测量信号,其代表所述接收电极与所述第一电极之间的第二耦合电容,且其中从所述第二耦合电容的变动对所述第一耦合电容的变动的比率确定所述位置。
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