[发明专利]机床及用于测量工件的方法

摘要

本发明涉及机床、尤其磨床以及在机床、尤其磨床中用于测量工件、尤其工件直径的方法，机床包括工件安装装置（14）、工具单元（28）、测量装置（48）以及可连接至测量装置（48）和工具单元（28）的控制装置（56），其中测量装置（48）安置在工具单元（28）上并包括至少两个测量探针（66、68），在测量配置中，至少两个测量探针（66、68）由限定测量区域（78）的基本间距（86）间隔开，其中基本间距（86）大于参考工件的已知参考尺寸（84），其中控制装置（56）配置成控制工件的探查，使得首先至少两个测量探针（66、68）中的第一探针（66）沿进给轴线（70）移动直至能够进行测量，然后另一侧上的工件通过至少两个测量探针（66、68）中的第二探针（68）探查，工具单元沿进给轴线（70）移动，其中控制装置（56）被配置成接收至少两个测量探针（66、68）探测的值和探测工具单元（28）的实际位置，以及配置成当探查移入测量区域（78）的工件（96）时，在工具单元（28）的位移路径（98）的基础上，考虑参考尺寸（84）和/或基本间距（86），确定工件的实际间距（100）、尤其实际直径。

主权项

一种机床，包括：‑工件安装装置(14)，包括用于安置工件(96)的至少一个工件夹持部件，‑工具单元(28)，包括工具主轴(30)，所述工具主轴(30)包括用于安置和驱动工具(32)的磨头，所述工具(32)为至少一个磨轮，其中所述工具单元(28)能够沿进给轴线(70)朝向所述工件(96)移动，‑测量装置(48)，安置在所述工具单元(28)上，其中所述测量装置(48)包括至少两个测量探针(66、68)，其中，在测量配置中，所述至少两个测量探针(66、68)由限定测量区域(78)的基本间距(86)间隔开，其中所述基本间距(86)大于已知参考尺寸(84)，以及‑控制装置(56)，能够连接至所述测量装置(48)和所述工具单元(28)，其中所述控制装置(56)配置成接收由所述至少两个测量探针(66、68)探测的值并接收所述工具单元(28)沿所述进给轴线(70)的实际位置，以及还被配置成当探查移入所述测量区域(78)的所述工件(96)时，在所述工具单元(28)的位移路径(98)的基础上，考虑所述参考尺寸(84)和/或所述基本间距(86)，由所述至少两个测量探针(66、68)确定实际间距(100)。