[发明专利]具有不对称栅极的垂直晶体管有效
申请号: | 201280048709.8 | 申请日: | 2012-07-26 |
公开(公告)号: | CN103843120B | 公开(公告)日: | 2016-12-14 |
发明(设计)人: | 郭德超;袁骏;K·K·H·黄;汉述仁 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人: | 贺月娇,于静 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种晶体管结构被形成为包含衬底以及位于所述衬底上方的源极、漏极和沟道,所述沟道被垂直地设置在所述源极与所述漏极之间。所述沟道被耦接至栅极导体,所述栅极导体经由栅极电介质材料层围绕所述沟道,所述栅极电介质材料层围绕所述沟道。所述栅极导体由具有第一功函数的第一导电材料和具有第二功函数的第二导电材料构成,所述第一导电材料围绕所述沟道的长度的第一部分,所述第二导电材料围绕所述沟道的长度的第二部分。还公开了一种制造所述晶体管结构的方法。可将所述晶体管结构表征为具有不对称栅极的垂直场效应晶体管。 | ||
搜索关键词: | 具有 不对称 栅极 垂直 晶体管 | ||
【主权项】:
一种晶体管结构,包含:衬底以及位于所述衬底上方的:源极;漏极;以及沟道,所述沟道被垂直地设置在所述源极与所述漏极之间且被耦接至栅极导体,所述栅极导体经由栅极电介质材料层围绕所述沟道,所述栅极电介质材料层围绕所述沟道,其中所述栅极导体由具有第一功函数的第一导电材料和具有第二功函数的第二导电材料构成,所述第一导电材料围绕所述沟道的长度的第一部分,所述第二导电材料围绕所述沟道的长度的第二部分,其中所述晶体管为n型场效应晶体管,所述第一导电材料的功函数大于所述第二导电材料的功函数,且所述第一导电材料位于比所述第二导电材料更靠近所述源极处,或者所述晶体管为p型场效应晶体管,所述第一导电材料的功函数大于所述第二导电材料的功函数,且所述第一导电材料位于比所述第二导电材料更靠近所述漏极处。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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