[发明专利]剥离晶片的再生加工方法有效
申请号: | 201280050352.7 | 申请日: | 2012-08-29 |
公开(公告)号: | CN103875061A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 石塚徹;大久保裕司;佐佐木拓也;荒木亮;能登宣彦 | 申请(专利权)人: | 信越半导体株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L27/12 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 朱健 |
地址: | 日本东京都千*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明是一种剥离晶片的再生加工方法,该方法对于制作贴合晶片时所副产的剥离晶片进行再生研磨,而能够再次作为键合晶片或衬底晶片利用,上述剥离晶片的再生加工方法在上述再生研磨中,在上述剥离晶片的剥离面上未形成有氧化膜且在与上述剥离面相反的背面上形成有氧化膜的状态下,利用双面研磨机研磨该剥离晶片。由此,提供一种剥离晶片的再生加工方法,该方法以较少的加工余量对于通过离子注入剥离法制造贴合晶片时所副产的剥离晶片进行能够足以提高平坦度等品质的再生研磨,从而能够做成高品质的再利用晶片。 | ||
搜索关键词: | 剥离 晶片 再生 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种剥离晶片的再生加工方法,该方法以氢离子、稀有气体离子中的至少一种气体离子对键合晶片的表面进行离子注入而形成离子注入层,并直接或隔着氧化膜将上述键合晶片的进行了离子注入的表面和衬底晶片的表面贴合之后,以上述离子注入层为界剥离键合晶片,由此制作在上述衬底晶片上具有薄膜的贴合晶片,并对此时所副产的剥离晶片进行再生研磨,而能够再次作为键合晶片或衬底晶片利用,上述剥离晶片的再生加工方法其特征在于,在上述再生研磨中,在上述剥离晶片的剥离面上未形成有氧化膜且在与上述剥离面相反的背面上形成有氧化膜的状态下,利用双面研磨机研磨该剥离晶片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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