[发明专利]磁共振成像装置和照射磁场分布测量方法有效

专利信息
申请号: 201280050834.2 申请日: 2012-10-31
公开(公告)号: CN103874458A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 伊藤公辅;泷泽将宏 申请(专利权)人: 株式会社日立医疗器械
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;李家浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的磁共振成像装置为了能够高速地得到多信道的发送RF线圈的各信道的照射磁场分布,针对发送线圈的全部或一部分的多个信道,取得通过一个信道或2个以上的信道的组合进行照射所得的图像,取得通过多个信道全体进行照射时的照射磁场分布,使用所取得的多个信道全体的照射磁场分布、根据各信道的图像和多个信道全体的图像所计算出的相位差,计算各信道的照射磁场分布。
搜索关键词: 磁共振 成像 装置 照射 磁场 分布 测量方法
【主权项】:
一种核磁共振成像装置,具备:摄像部,其具备向检查对象照射高频磁场的发送部以及从上述检查对象接收核磁共振信号的接收部;计算部,其对上述接收部所取得的核磁共振信号进行处理,进行包含图像重构的计算;控制部,其控制上述摄像部的摄像,该核磁共振成像装置的特征在于,上述发送部具备具有2个以上信道的发送线圈,上述控制部具备:图像取得时序,其针对上述发送线圈的全部或一部分的多个信道,取得通过一个信道或2个以上信道的组合进行照射所得的图像;照射磁场分布测量时序,其测量通过上述多个信道全体进行照射时的照射磁场分布,上述计算部具备:第一照射磁场分布计算部,其使用通过上述照射磁场分布测量时序取得的数据,计算上述多个信道全体的照射磁场分布;第二照射磁场分布计算部,其使用通过上述图像取得时序取得的多个图像数据和由上述第一照射磁场分布计算部计算出的多个信道全体的照射磁场分布,计算构成上述多个信道的每个信道的照射磁场分布。
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