[发明专利]用于验证微环境中的温度测量结果的方法和系统

摘要

本发明涉及一种适合用于分析预计在微环境中建立限定温度的设备的温度控制的方法，所述方法包括第一光学温度验证步骤，该第一光学温度验证步骤包括a）在微环境中提供一种或多种热敏变色液晶，其中每种热敏变色液晶具有特定事件温度，b）在微环境中提供一种或多种温度依赖发光体，c）使在该微环境中的温度变化并利用光照射该微环境，d）当在该微环境中达到该一种或多种热敏变色液晶的事件温度时，记录该一种或多种温度依赖发光体的发光；并且其中所述方法包括第二光学温度验证步骤，该第二光学温度验证步骤包括以下：a）在微环境中提供在该第一光学温度验证中使用的一种或多种温度依赖发光体；b）改变微环境的温度并利用光照射该微环境；c）监测发出的光。相应的方法非常适合于特别是在校准过程中分析热循环仪的温度控制。

主权项

1.一种适合用于分析预计在微环境中建立限定温度的设备的温度控制的方法，所述方法包括第一光学温度验证步骤，所述第一光学温度验证步骤包括：a)在微环境中提供一种或多种热敏变色液晶，其中，所述一种或多种热敏变色液晶都具有特定的事件温度，b)在微环境中提供一种或多种温度依赖发光体，c)使在所述微环境中的温度变化并利用光照射所述微环境，d)当在所述微环境中达到所述一种或多种热敏变色液晶的事件温度时，记录所述一种或多种温度依赖发光体的发光，其中，在步骤d)中，在微环境中的温度依赖发光体的特定发光强度与所述微环境内的特定绝对温度相关，其中，所述微环境中的所述绝对温度由所述热敏变色液晶的光学特性的变化来指示。