[发明专利]使用超低磁场核磁共振的物体识别方法和物体识别装置有效

专利信息
申请号: 201280052725.4 申请日: 2012-10-16
公开(公告)号: CN103890573B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 金基雄;姜纂锡;李成柱;李龙镐;刘权规 申请(专利权)人: 韩国标准科学研究院
主分类号: G01N24/08 分类号: G01N24/08
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 代理人: 陈桂香,褚海英
地址: 韩国大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种用于识别超低磁场核磁共振材料的方法和装置。所述方法包括如下步骤改变针对测量目标的预极化磁场的强度或者所述预极化磁场的施加时间并测量自旋‑晶格弛豫时间(T1);并且使用所述自旋‑晶格弛豫时间对所述测量目标进行分类。
搜索关键词: 使用 磁场 核磁共振 物体 识别 方法 装置
【主权项】:
一种使用超低磁场核磁共振的物体识别方法,所述方法包括如下步骤:测量测量目标在预极化磁场的多个强度处的各个自旋‑晶格弛豫时间(T1);利用各个所述自旋‑晶格弛豫时间T1来构建第一参数向量;并且使用所述自旋‑晶格弛豫时间对所述测量目标进行分类,其中,使用所述第一参数向量来辨别所述测量目标的品种,并且其中,测量各个所述自旋‑晶格弛豫时间(T1)包括如下步骤:设定适于所述测量目标的个体弛豫时间特性的脉冲序列;施加预极化磁场和读出磁场;测量自由感应衰减(FID)信号;通过对所述FID信号进行傅里叶变换来测量在原子核的共振频率处的信号强度或线宽;改变施加所述预极化磁场的时间长度;通过拟合根据施加所述预极化磁场的时间长度的所述信号强度的变化来获得所述自旋‑晶格弛豫时间T1;并且以通过对所述预极化磁场的多个变化了的强度重复进行以上操作获得各个所述自旋‑晶格弛豫时间T1的方式来构建所述第一参数向量。
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