[发明专利]表面结合磁颗粒的检测有效
| 申请号： | 201280053251.5 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103907012B | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | J·B·A·D·范佐恩;R·M·L·范利斯豪特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 刘瑜,王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测结合至样本室(112)的结合表面(111)的磁颗粒(1)的方法和传感器设备(100)，其中，所述检测是在吸引磁场的作用期间做出的和/或是在吸引磁场的作用后立即做出的。优选地，排斥磁场(B)处于所述吸引磁场(B)之前，所述排斥磁场将未结合的磁颗粒从所述结合表面(111)移除。由于所述吸引磁场(B)的原因，结合的磁颗粒(1)更加靠近所述结合表面(111)，这增强了诸如受抑全内反射的表面特异性检测技术的信号。能够通过平行于所述结合表面(111)从而诱发未结合的磁颗粒与结合的磁颗粒之间的链的生成的吸引磁场，来实现所述信号的进一步增强。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 结合 颗粒 检测 | ||
【主权项】：
一种用于在磁颗粒(1、1')已经结合到结合表面(111)之后检测样本室(112)中的磁颗粒(1、1')的方法，所述方法包括：a)生成排斥磁场和吸引磁场(B)的序列，其中，a1)所述吸引磁场(B)将磁颗粒(1、1')吸引至所述结合表面(111)；a2)在生成所述吸引磁场(B)之前生成所述排斥磁场，所述排斥磁场将磁颗粒(1、1')从所述结合表面(111)拉离；a3)所述排斥磁场的持续时间和/或强度和/或梯度大于所述吸引磁场(B)的持续时间和/或强度和/或梯度；b)在所述吸引磁场(B)开始之后0.01s和1s之间的时间处检测所述结合表面(111)处的磁颗粒(1、1')。
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