[发明专利]使用梯度传感器的波场分离有效
申请号: | 201280057818.6 | 申请日: | 2012-10-09 |
公开(公告)号: | CN103959099B | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | P·埃德姆;E·J·穆扎特;J·O·A·罗伯特松 | 申请(专利权)人: | 格库技术有限公司 |
主分类号: | G01V1/28 | 分类号: | G01V1/28;G01V1/24 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 张伟,王英 |
地址: | 荷兰格*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 从至少一个平移勘测传感器接收与地下结构有关的地震数据,并且从至少一个梯度传感器接收梯度传感器数据。在组合地震数据和梯度传感器数据的基础上分离地震数据中的P波场和S波场。 | ||
搜索关键词: | 使用 梯度 传感器 分离 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:从放置在自由表面的正下方的至少一个平移勘测传感器接收与地下结构有关的地震数据;从放置在所述自由表面的正下方的至少一个散度传感器接收散度传感器数据;以及基于所述地震数据和所述散度传感器数据分离所述地震数据中的P波场和S波场,其中,使用以下等式(1)和(2)从所述平移地震数据获得上行P波场和S波场:其中Pup和Sup是完全入射的上行P波场和S波场,α和β是近地面P波速度和S波速度,p是水平慢度,qα是P波的竖直慢度,qβ是S波的竖直慢度,UH是所述散度传感器数据,其中,使用以下等式(3)和(4)获得下行P波场和S波场:Pdown=RPPPup, (等式3)其中,RPP是所述自由表面处的从上行P到下行P的P波反射系数,以及Sdown=RSSSup (等式4)其中,Rss是所述自由表面处的从上行S到下行S的S波反射系数。
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