[发明专利]用于使用ADABOOST学习算法来检测面部特征点的位点的方法、设备和计算机可读记录介质在审

专利信息
申请号: 201280058002.5 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN104395913A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: Y.J.昌;Y.C.朴 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张金金;汤春龙
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本公开涉及使用Adaboost学习算法来检测面部特征点的位点。根据一些实施例,用于检测面部特征点的位点的方法包括:(a)使用由Adaboost学习算法选择的第一特征模式将子窗口图像归类为第一推荐特征点候选图像和第一非推荐特征点候选图像并且生成关于第一推荐特征点候选图像的第一特征点候选位点信息的步骤;以及(b)使用由Adaboost学习算法选择的第二特征模式将归类为所述第一非推荐特征点候选图像的所述子窗口图像重新归类为第二推荐特征点候选图像和第二非推荐特征点候选图像并且生成关于第二推荐特征点推荐候选图像的第二特征点候选位点信息的步骤。
搜索关键词: 用于 使用 adaboost 学习 算法 检测 面部 特征 方法 设备 计算机 可读 记录 介质
【主权项】:
 一种通过使用Adaboost学习算法来检测面部特征点的位置的方法,所述方法包括:(a)通过使用通过所述Adaboost学习算法而选择的第一特征模式将子窗口图像归类为第一特征点候选推荐图像和第一特征点候选非推荐图像,并且生成所述第一特征点候选推荐图像的第一特征点候选位置信息;以及(b)通过使用通过所述Adaboost学习算法而选择的第二特征模式将归类为所述第一特征点候选非推荐图像的子窗口图像重新归类为第二特征点候选推荐图像和第二特征点候选非推荐图像,并且生成所述第二特征点候选推荐图像的第二特征点候选位置信息。
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