[发明专利]微结构化芯片,包含微结构化芯片的分析装置及该装置的用途有效

专利信息
申请号: 201280058162.X 申请日: 2012-10-25
公开(公告)号: CN104081187B 公开(公告)日: 2018-09-21
发明(设计)人: 蒂博·梅塞 申请(专利权)人: 蒂博·梅塞
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;C12Q1/68
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 张瑞;王漪
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及用于表面等离子体共振(SPR)分析的一种微结构化芯片(3,33,43,53,63),该微结构化芯片采用由以下部分形成的实心体的形式:一个基底(5,77);一个上表面(4,44),该上表面的至少部分被覆盖着一个金属层(2,22,42,52,62);以及至少一个侧表面(55,66)。该芯片的特征在于,前述上表面具备一些意在接收有待分析的物质并且从n个突起和m个空腔当中选出的微测区,并且特征在于当n+m≥2时,所述区通过一些平面表面被彼此分隔,其中n的范围是从1到j,m的范围是从0到i,并且j和i是整数。
搜索关键词: 用于 表面 等离子体 共振 分析 包括 微结构 芯片 包含 装置 使用
【主权项】:
1.一种用于表面等离子体共振(SPR)分析的微结构化芯片(3,33,43,53,63),其特征在于,该微结构化芯片包括:由一个基底(5,77)、一个上部面(4,44)和至少一个侧面(55,66)组成的一个实心体;一个金属层(2,22,42,52,62),其覆盖该上部面的至少一个部分;以及设置在该上部面上的微测尺寸的区,所述区具备以下项中的至少两个:范围从1μm到1000μm的i)长度尺寸、ii)宽度尺寸和iii)高度尺寸,所述区意在用于接纳有待分析的物质,所述区包括n个突起和m个空腔,其中n+m≥2,且所述区被一些平面表面彼此分隔,其中n的范围是从1到j,并且m的范围是从0到i,j和i是整数;其中所述n个突起中的每个和所述m个空腔中的每个包括具有在0.1mm到600mm之间的曲率半径(“R”)的弯曲的表面。
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