[发明专利]用于生产结晶半导体锭的坩埚及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201280060933.9 申请日: 2012-12-11
公开(公告)号: CN103987881A 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 吉尔伯特·兰库勒;克里斯蒂安·马丁;劳伦·杜布瓦 申请(专利权)人: 维苏威法国股份有限公司
主分类号: C30B11/00 分类号: C30B11/00;C30B11/14;C30B29/06;C30B35/00;C30B28/06;H01L31/18
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 脱颖
地址: 法国费*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及用于生产结晶半导体锭的坩埚(1),所述坩埚包括由底板(1a)和周边侧壁(1b)限定的内部体积,所述底板(1a)的顶表面包括限定第一水平平面(H)的平面部分,所述周边侧壁(1b)各自包括内表面,所述内表面包括基本上竖直的平面部分,其限定了基本上竖直的平面(V)并且垂直于第一水平平面(H),所述侧壁(1b)在底板(1a)的周边通过形成至少1mm的曲率半径R1而连接底板(1a),其特征在于,在第一水平平面(H)与由各侧壁(1b)的基本上竖直的平面部分限定的基本上竖直的平面(V)之间形成交会的相交线(hv)完整地位于侧壁(1b)上、底板(1a)上或坩埚的内部体积中。
搜索关键词: 用于 生产 结晶 半导体 坩埚 及其 制造 方法
【主权项】:
一种用于生产结晶半导体锭的坩埚(1),所述坩埚包括由底板(1a)和周边侧壁(1b)限定的内部体积,所述底板(1a)的顶表面包括限定第一水平平面(H)的平面部分,所述周边侧壁(1b)各自包括内表面,所述内表面包括基本上竖直的平面部分,其限定了基本上竖直的平面(V)并且垂直于所述第一水平平面(H),所述侧壁(1b)通过在所述底板(1a)的周边形成至少1mm的曲率半径R1而连接所述底板(1a),其特征在于,在所述第一水平平面(H)与由各侧壁(1b)的所述基本上竖直的平面部分限定的所述基本上竖直的平面(V)之间形成交会的相交线(hv)完整地位于所述侧壁(1b)上、所述底板(1a)上或所述坩埚的内部体积中。
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