[发明专利]衬底处理装置、半导体器件的制造方法及气化装置有效
申请号: | 201280062936.6 | 申请日: | 2012-12-20 |
公开(公告)号: | CN104011839B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 芦原洋司;佐久间春信;立野秀人;和田优一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立国际电气 |
主分类号: | H01L21/31 | 分类号: | H01L21/31;C23C16/448;H01L21/316 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 杨宏军,王大方 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种衬底处理装置,具有处理衬底的反应室;气化装置,其具有被供给包含过氧化氢或过氧化氢和水的处理液的气化容器、向所述气化容器供给处理液的处理液供给部和加热所述气化容器的加热部;气体供给部,将由该气化装置生成的处理气体供给到所述反应室;排气部,对所述反应室内的环境气体进行排气;所述控制部,控制所述加热部和所述处理液供给部,以使得在所述加热部加热所述气化容器的同时所述处理液供给部向所述气化容器供给处理液。 | ||
搜索关键词: | 衬底 处理 装置 半导体器件 制造 方法 气化 | ||
【主权项】:
一种衬底处理装置,其特征在于,具有:反应室,对衬底进行处理;气化装置,其具有气化容器、处理液供给部和加热部,所述处理液供给部将包含过氧化氢或过氧化氢和水的处理液供给到所述气化容器,所述气化容器由内部部件和外部部件构成,所述内部部件由硅氧化物形成,构成与所述处理液接触的所述气化容器的内侧的面,所述外部部件由铝或不锈钢中的任意一方或它们的混合物形成,以包围所述内部部件的外侧的方式设置,所述加热部直接加热所述外部部件,通过已被加热的所述外部部件传导的热加热所述内部部件;气体供给部,将由该气化装置生成的含有过氧化氢的处理气体供给到所述反应室;排气部,对所述反应室内的环境气体进行排气;和控制部,控制所述加热部和所述处理液供给部,以使得在所述加热部加热所述内部部件的同时所述处理液供给部向所述气化容器供给所述处理液。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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