[发明专利]用于扫频光学相干层析成像的设备及方法有效
| 申请号： | 201280063063.0 | 申请日： | 2012-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN104011498A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 奥勒·马索;亨宁·威斯维;托比亚斯·热格洛茨 | 申请（专利权）人： | 威孚莱有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;A61B3/10 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 归莹;张颖玲 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于扫频光学相干层析成像的设备，包括光谱可调光源和探测器，所述光谱可调光源用于发射相干光的，所述探测器用于获取来自所述光源的相干光所辐射对象背向散射的传送光的强度。另外，所述设备包括控制装置，该控制装置被设置为控制所述光源和所述探测器在所述光源被调谐的同时由所述探测器按照规定的测量次数来执行强度获取，为了改变所述层析图的测量深度和/或轴向分辨率，所述控制装置被进一步设置为对所述规定的测量次数和/或所述探测器执行所述强度获取所在的光谱测量带宽加以改变。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 相干 层析 成像 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于扫频光学相干层析成像的设备(10)，包括：光谱可调光源(14)，用于发射相干光；探测器(34)，用于获取干涉光的强度，所述干涉光由来自所述光源的相干光所辐射对象(12)背向散射的传送光与参考光的叠加产生，以及控制装置(16)，用于控制所述光源(14)和所述探测器(34)在所述光源(14)被调谐的同时由所述探测器(34)按照规定的测量次数来执行强度获取；其中，为了改变所述层析成像的测量深度和轴向分辨率中的至少一个，所述控制装置被配置为对所述规定的测量次数和所述探测器(34)执行所述强度获取所在的光谱测量带宽中的至少一个加以改变。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威孚莱有限公司，未经威孚莱有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280063063.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
